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IGBT的故障分析與測(cè)試-Chroma19501-k

點(diǎn)擊次數(shù):1566 更新時(shí)間:2021-07-23

IGBT 模塊常使用在各種高功率電源與大電力馬達(dá)驅(qū)動(dòng)。由于功率高,動(dòng)作電壓就會(huì)提高,因此1,000V 上下的工作電壓并不少見(jiàn)。各個(gè)IGBT 因時(shí)序分離,其閘級(jí)(Gate)與射級(jí)(Emitter)間工作偏壓都由獨(dú)立隔離變壓器所提供。 此變壓器在動(dòng)作時(shí),于一二次側(cè)之間會(huì)有一PWM切換之高頻高壓(如圖一) 。一般變壓器常因使用者與生產(chǎn)者對(duì)線材本身的崩潰電壓與線間局部放電的起始電壓之差別沒(méi)有足夠認(rèn)識(shí),造成未能進(jìn)行正確的絕緣能力要求、正確的絕緣設(shè)計(jì)及生產(chǎn)檢測(cè),導(dǎo)致IGBT毀損或因高壓放電突波在數(shù)字端產(chǎn)生各式異常動(dòng)作。

馬達(dá)驅(qū)動(dòng)控制電路圖
▲圖一. 馬達(dá)驅(qū)動(dòng)控制電路圖

若此變壓器一二次側(cè)間壓差為1,000V_peak方波, 一般非安規(guī)的質(zhì)量要求可能設(shè)計(jì)>2,000V耐壓程度,那使用崩潰電壓>3,000V的線材分別繞在兩側(cè)線,即使相鄰也能耐個(gè)6,000V吧? 答案是他可能可以耐6,000V一分鐘,但也許在實(shí)際工作(1,000V 方波)一段時(shí)間后就故障。其原因?yàn)橐话憬^緣皮介電系數(shù)都遠(yuǎn)高于空氣,導(dǎo)致交流狀態(tài)下在空氣部分之分壓比例較高。在線間空氣分壓達(dá)>350V_peak (1atm 氣體短距放電開(kāi)始電位)狀態(tài),持續(xù)局部放電而逐步碳化終至短路(參照?qǐng)D二)。抑或在變壓器破壞前,此局部放電突波極可能在數(shù)字電路上造成異常干擾而誤動(dòng)作。

變壓器線圈因持續(xù)性電暈放電導(dǎo)致一二次側(cè)間線圈短路
▲圖二. 變壓器線圈因持續(xù)性電暈放電導(dǎo)致一二次側(cè)間線圈短路

圖三為一高功率電源IGBT控制變壓器造成的故障實(shí)例。由此能看見(jiàn)異常變壓器在使用時(shí)因電暈放電而發(fā)光,但于一般零件測(cè)試中未被判異常且也未被發(fā)現(xiàn)于電源成品生產(chǎn)測(cè)試?yán)铩s在實(shí)際使用環(huán)境經(jīng)常造成IGBT 模塊故障或系統(tǒng)的數(shù)字異常誤動(dòng)作等不易直接聯(lián)想的質(zhì)量議題,直到變壓器改善設(shè)計(jì)或更換才獲得改善。

變壓器線圈因持續(xù)性電暈放電導(dǎo)致一二次側(cè)間線圈短路
▲圖三. 高功率電源IGBT控制變壓器持續(xù)電暈放電故障實(shí)例

一般變壓器業(yè)者只依據(jù)規(guī)格進(jìn)行普通耐壓測(cè)試,而未針對(duì)局部放電(PD)或電氣閃絡(luò)(Flashover)作檢測(cè)而導(dǎo)致此類議題廣泛發(fā)生于各式電源使用之電氣電子產(chǎn)品。要避免此類議題的發(fā)生,一定得確保在工作條件下無(wú)持續(xù)性局部放電(PD)。一般相關(guān)法規(guī)(例IEC60747-5-5)精神上會(huì)建議以最高使用可能電位之1.875倍,在生產(chǎn)檢測(cè)(數(shù)秒程度)無(wú)PD(例PD <15pC) 來(lái)確保長(zhǎng)久產(chǎn)品質(zhì)量。以1,000V_peak 應(yīng)用例, 約1.325kVrms @ 60Hz (1.875kV_peak),PD <15pC 可能是一個(gè)合適的檢測(cè)。(p.s.上例發(fā)生問(wèn)題之變壓器實(shí)測(cè)局部放電起始電壓PDIV僅約在400Vac,遠(yuǎn)低于應(yīng)有品質(zhì)能力)。

Chroma 19501系列產(chǎn)品提供AC耐壓測(cè)試(10kVac)及局部放電檢測(cè)(1pC~2,000pC)功能,是?壓產(chǎn)品局部放電(Partial Discharge , PD)異常檢出的最佳?案,為您把關(guān)長(zhǎng)期工作之質(zhì)量與可靠性。

Chroma 19501

另外,Chroma 11890 高頻耐壓測(cè)試器(5kVrms/100mA 10kHz~200kHz) 亦可使用于異常之加速測(cè)試(PD劣化速度與頻率約成正比例),驗(yàn)證不良位置與設(shè)計(jì)改善成效。

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